Confovis

AOI & 3D Metrology

Confovis WAFERinspect AOI

WAFERinspect AOI

AOI & 3D Metrology

Oberflächenmesstechnik und -inspektion von Confovis

Optische Inspektion und Messtechnik für anspruchsvolle Oberflächen

Confovis ist Spezialist auf dem Gebiet der automatischen optischen Inspektion (AOI) und 3D-Messtechnik. Unsere Lösungen sind auf die spezifischen Anforderungen von Industrie und Forschung zugeschnitten.

Um den dynamischen Herausforderungen der heutigen Zeit gerecht zu werden, wurden unsere Inspektions- und Messsysteme modular und flexibel konstruiert. Das Herzstück unserer Systeme ist unsere patentierte konfokale Messeinheit, die nach dem Prinzip der Structured Illumination Microscopy (SIM) funktioniert und für höchste Präzision und Geschwindigkeit steht.

Kundenzufriedenheit ist unsere höchste Priorität und entsprechend hoch ist unsere Leistungsbereitschaft.

Confovis Lösungen für Ihre Anwendung

Von der Inspektion von Mikrolinsen und Verbindungshalbleitern bis hin zur Evaluierung von Advanced Packaging Verfahren bietet Confovis zuverlässige Lösungen, die den höchsten Qualitäts- und Leistungsstandards entsprechen:

Referenzen

Umgesetzte Kundenlösungen